ASTAR

1/10

ASTAR – система автоматического фазового и ориентационного картирования, разработанная для применения на всех типах просвечивающих электронных микроскопов. Электронный пучок сканирует поверхность образца с параллельной регистрацией дифракционных картин от каждой сканируемой точки. Ориентация кристаллов определяется путем сравнения экспериментальных дифракционных картин с заранее рассчитанными для всех возможных ориентаций дифракционными картинами данного вещества. Определение фаз и построение ориентационных карт требует набора высококачественных дифракционных картин (большое количество рефлексов и высокое угловое разрешение). Высокое качество дифракционных картин, получаемых с использованием системы ASTAR, обеспечивается применением метода прецессионной электронной дифракции. Метод прецессионный дифракции позволяет наблюдать вдвое большее число рефлексов (угловое разрешение <1О), а так же снижает влияние динамических эффектов на интенсивности рефлексов. В результате прецессионные дифракционные картины могут использоваться для определения истинной симметрии образца, а так же для целей фазового анализа, так как интенсивности рефлексов с высокой степенью достоверности могут быть описаны в рамках кинематической дифракции. Получение ориентационных карт текстурированных материалов возможно с помощью сканирующего электронного микроскопа с использованием метода EBSD(электроны обратного рассеяния). Основные недостатки метода EBSD заключаются в чрезвычайной чувствительности кикучи-картин к напряжениям и деформации образца, ограниченной разрешающей способности метода и трудностям (если не принципиальной невозможностью) исследования органических, непроводящих и плохо-окристаллизованных веществ.

ASTAR позволяет получать детальные ориентационные карты (ориентационное разрешение <1 О с шагом сканирования <5 нм) для металлов, керамик, полупроводников и любых других дифрагирующих материалов без необходимости специального препарирования образцов.

ASTAR позволяет получать детальные фазовые карты (разрешение <5нм для просвечивающих электронных микроскопов, оборудованных пушками с полевой эмиссией TEM - FEG , и <25 нм для просвечивающих электронных микроскопов, оборудованных катодом из гексаборида лантана).

ASTAR не требует много времени для анализа образца: менее 5 минут для поля 5 Х 5 микрон (500 Х 500 точек).